產品詳情
                        
                        
            簡單介紹:
        
        
            半導體硅片檢查用顯微鏡MX51
規格: 放大倍數:50×、100×、200×、500×、1000X;
物鏡種類:平場半復消色差物鏡,螢石材料;
觀察方法:明場、暗場、偏振光;
        
    
            詳情介紹:
        
        
	半導體硅片檢查用顯微鏡MX51
	規格: 放大倍數:50×、100×、200×、500×、1000X;
	物鏡種類:平場半復消色差物鏡,螢石材料;
觀察方法:明場、暗場、偏振光;
        
    