澤攸ZEM20掃描顯微鏡選購配置指南

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澤攸ZEM20掃描顯微鏡選購配置指南
ZEM20支持豐富的附件系統(tǒng)，擴(kuò)展了其應(yīng)用范圍。原位實(shí)驗(yàn)附件包括拉伸臺(tái)，可在觀察樣品的同時(shí)施加拉伸力，實(shí)時(shí)記錄材料變形和斷裂過程。加熱臺(tái)最高工作溫度可達(dá)1200℃，配合高溫樣品座，可觀察材料在加熱過程中的相變、燒結(jié)等動(dòng)態(tài)變化。

產(chǎn)品型號(hào)：

更新時(shí)間：2026-01-19

廠商性質(zhì)：代理商

訪問量：258

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

臺(tái)式電鏡&臺(tái)階儀&原位分析

澤攸臺(tái)式掃描電鏡澤攸臺(tái)階儀澤攸探針臺(tái)及低溫系統(tǒng) 澤攸TEM原位方案(樣品桿) 澤攸SEM原位解決方案

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澤攸ZEM20掃描顯微鏡選購配置指南

選購ZEM20時(shí)需要綜合考慮研究需求和預(yù)算限制?；A(chǔ)配置包括主機(jī)、電子光學(xué)系統(tǒng)、真空系統(tǒng)和基本探測(cè)系統(tǒng)，可滿足常規(guī)形貌觀察需求。若經(jīng)常觀察非導(dǎo)電樣品，建議選配低真空模式或減速模式功能，這些功能能有效緩解樣品充電問題。

對(duì)于需要進(jìn)行成分分析的用戶，能譜儀是必要選配。目前主流的硅漂移探測(cè)器具有較高計(jì)數(shù)率和能量分辨率，適合多數(shù)應(yīng)用場(chǎng)景。若需要分析超輕元素，可考慮配備超薄窗口或無窗探測(cè)器，但需要注意維護(hù)要求更高。

樣品類型也是重要考慮因素。常規(guī)樣品使用標(biāo)準(zhǔn)樣品座即可，若需要觀察特殊形狀或尺寸的樣品，可選購專用樣品座。進(jìn)行動(dòng)態(tài)實(shí)驗(yàn)研究的用戶應(yīng)考慮原位實(shí)驗(yàn)附件，如拉伸臺(tái)、加熱臺(tái)等。這些附件雖然增加投資，但能極大擴(kuò)展設(shè)備功能。

售后服務(wù)同樣重要。建議選擇提供完善技術(shù)支持和培訓(xùn)服務(wù)的供應(yīng)商，確保設(shè)備始終處于良好狀態(tài)。定期維護(hù)合同能幫助預(yù)防潛在問題，減少意外停機(jī)時(shí)間。

澤攸ZEM20掃描顯微鏡選購配置指南

ZEM20是澤攸科技ZEM系列中的一款，與其他型號(hào)如ZEM18、ZEM15C和ZEM Ultra場(chǎng)發(fā)射電鏡形成互補(bǔ)。ZEM20主要定位中端，分辨率4nm，放大倍數(shù)36萬倍；而ZEM Ultra場(chǎng)發(fā)射型號(hào)可能分辨率更高。選購時(shí)需關(guān)注：分辨率需求（是否高于4nm）、加速電壓范圍（ZEM20為20kV）、樣品倉尺寸（ZEM20為大倉設(shè)計(jì)）以及是否需原位附件。預(yù)算方面，ZEM20參考價(jià)格約60萬元人民幣，用戶應(yīng)根據(jù)實(shí)際應(yīng)用選擇配置，如材料科學(xué)可能需加熱臺(tái)，生物樣品可選減速模式。售后服務(wù)方面，澤攸科技提供1年質(zhì)保、現(xiàn)場(chǎng)培訓(xùn)與遠(yuǎn)程診斷。澤攸ZEM20掃描顯微鏡選購配置指南